Tümleştirilmiş devrelerin güvenilirlik analizine yönelik algoritmalar ve yöntemler; Güvenilirliğin modellenmesi, yarıiletken elemanlara ilişkin güvenilirlik sorunlarının fiziksel nedenleri; Ölçme ve sınama metodları, hataların öngörülebilmesine yönelik yöntemler.